機器分析 II（本科専門科目）

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科目名：機器分析　II（英文科目名：Instrumental Analysis II）

　　　　１単位　必修　物質工学科５年　前期

担当教官：堤　欣　三　（居室：専攻科棟４階）

　　　　　�掾F0285-20-2807　 Email: tsutsumi@oyama-ct.ac.jp

授業目的

　１．学生実験や卒業研究、また卒業後技術者として企業で研究開発に携わるために必要な各種分析機器の基本を理解すること。

　２．それぞれの分析機器が原子や分子または材料について如何なる情報を提供するかを理解する。

達成目標

１．分析機器の測定原理、機器の構成、構成要素の機能を説明できる。

２．測定値の意味、原子・分子・材料に関する如何なる物理量を測定しているかを説明できる。

２．分析機器から得られた情報の基礎的解析が可能となること。

　

技術者教育プログラムの学習・教育目標：（Ａ）

　JABEE基準１の（１）との関係：（ｄ）

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

教科書：

　田中誠之、飯田芳男　著「機器分析」、裳華房（1998）

参考書：

　特に参考書としては挙げない。それぞれの分析機器に関する著書が出版されている。

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

授業内容：

　１．総論

　２．吸光度分析（可視・紫外吸収スペクトル）

　３．蛍光分析

　４．旋光分散法・円偏光二色性法

　５．ラマンスペクトル法

　６．原子吸光分析・フレーム分析

　７．発光分光分析

　８．Ｘ線分析・電子分光分析

　９．常磁性共鳴吸収法

　１０．ガスクロマトグラフ分析・高速液体クロマトグラフ法

　１１．熱分析

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

評価方法：

　基本的に２回の試験結果（平均値）から評価する。定期試験実施方法：

　２回の試験は全て筆記試験である。

連絡事項：

　特になし。