科目名	機器分析特論	英語科目名	Instrumental Analysis
開講年度・学期	平成１８年度・後期	対象学科・専攻・学年	専攻科物質工学専攻1，2年
授業形態	講義	必修or選択	選択
単位数	2単位	単位種類	学修単位(45時間単位)
担当教員	渥美太郎	居室（もしくは所属）	電気・物質棟4階
電話	0285-20-2805	E-mail	atsumi@oyama-ct.ac.jp
授業の達成目標
１． X線回折法の原理について説明できできること． ２． 結晶の幾何学について説明できること． ３． X線回折法により得られたデータを解析できること．
各達成目標に対する達成度の具体的な評価方法
1～3について課題と試験において６０％以上の成績で評価する．
評価方法
課題40%，期末試験60％の割合で評価する.
授業内容			授業内容に対する予習項目
1.　X線の性質(1週) 2. 結晶の幾何学(4週) 3. X線の回折(3週) 4. 結晶構造解析(5週) 5.　まとめ(1週) 期末試験			配布プリントの精読．
キーワード	X線回折，結晶構造
教科書	プリント配布
参考書	田中誠之，飯田芳男「機器分析」　裳華房（1998）
技術者教育プログラムの学習・教育目標
(A-2)基礎知識を専門工学分野に応用して解ける.
JABEE基準１の（１）との関係		d(2-a)
カリキュラム中の位置づけ
前年度までの関連科目
現学年の関連科目
次年度以降の関連科目
連絡事項
1.　試験は90分とし，計算機の持ち込みは可とします．追試は行いません．
シラバス作成年月日：平成　18年　3月　15日