科目名 |
機器分析特論 |
英語科目名 |
Instrumental Analysis |
開講年度・学期 |
平成18年度・後期 |
対象学科・専攻・学年 |
専攻科物質工学専攻1,2年 |
授業形態 |
講義 |
必修or選択 |
選択 |
単位数 |
2単位 |
単位種類 |
学修単位(45時間単位) |
担当教員 |
渥美太郎 |
居室(もしくは所属) |
電気・物質棟4階 |
電話 |
0285-20-2805 |
E-mail |
atsumi@oyama-ct.ac.jp |
授業の達成目標 |
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1.
X線回折法の原理について説明できできること. 2. 結晶の幾何学について説明できること. 3. X線回折法により得られたデータを解析できること. |
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各達成目標に対する達成度の具体的な評価方法 |
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1~3について課題と試験において60%以上の成績で評価する. |
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評価方法 |
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課題40%,期末試験60%の割合で評価する. |
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授業内容 |
授業内容に対する予習項目 |
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1. X線の性質(1週) 2. 結晶の幾何学(4週) 3. X線の回折(3週) 4. 結晶構造解析(5週) 5. まとめ(1週) 期末試験 |
配布プリントの精読. |
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キーワード |
X線回折,結晶構造 |
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教科書 |
プリント配布 |
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参考書 |
田中誠之,飯田芳男「機器分析」 裳華房(1998) |
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技術者教育プログラムの学習・教育目標 |
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(A-2)基礎知識を専門工学分野に応用して解ける. |
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JABEE基準1の(1)との関係 |
d(2-a) |
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カリキュラム中の位置づけ |
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前年度までの関連科目 |
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現学年の関連科目 |
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次年度以降の関連科目 |
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連絡事項 |
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1. 試験は90分とし,計算機の持ち込みは可とします.追試は行いません. |
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シラバス作成年月日:平成 18年 3月 15日 |